• head_banner_01

DB-FIB

Gysga düşündiriş:


Önümiň jikme-jigi

Haryt bellikleri

Hyzmat giriş

Häzirki wagtda DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) gözleg we önüm gözleginde giňden ulanylýar:

Keramiki materiallar ,Polimerler ,Metal materiallar ,Biologiki gözlegler ,Ondarymgeçirijiler ,Geologiýa

Hyzmat çäkleri

Ondarymgeçiriji materiallar, organiki ownuk molekula materiallary, polimer materiallary, organiki / organiki däl gibrid materiallar, organiki däl metal däl materiallar

Hyzmat maglumatlary

Ondarymgeçiriji elektronikanyň we toplumlaýyn zynjyr tehnologiýalarynyň çalt ösmegi bilen enjamyň we zynjyr gurluşlarynyň çylşyrymlylygy mikroelektron çip prosesini anyklamak, näsazlyk derňewi we mikro / nano ýasamak talaplaryny ýokarlandyrdy.Dual Beam FIB-SEM ulgamyGüýçli takyk işlemek we mikroskopiki derňew mümkinçilikleri bilen mikroelektron dizaýnynda we önümçiliginde aýrylmaz boldy.

Dual Beam FIB-SEM ulgamyFokusirlenen Ion şöhlesini (FIB) we skaner elektron mikroskopyny (SEM) birleşdirýär. Elektron şöhlesiniň ýokary giňişlik çözgüdi bilen ion şöhlesiniň takyk material gaýtadan işleýiş mümkinçiliklerini birleşdirip, FIB esasly mikro-işleýiş proseslerine real wagt SEM synlamaga mümkinçilik berýär.

Hyzmat elementleri

SaýtKesgitli kesiş taýýarlygy

TEM nusga şekillendiriş we derňew

Ssaýlama Etching ýa-da Giňeldilen Etching Barlagy

Metal we izolýasiýa gatlak depozit synagy


  • Öňki:
  • Indiki:

  • Habaryňyzy şu ýere ýazyň we bize iberiň