Geçiriş elektron mikroskopy (TEM), ýagtylyk çeşmesi hökmünde elektron şöhlesine esaslanýan, iň ýokary çözgüdi takmynan 0,1nm bolan elektron mikroskopiýa esaslanýan mikrofiziki gurluş derňew usulydyr.TEM tehnologiýasynyň peýda bolmagy, adamyň ýalaňaç göz bilen mikroskopiki gurluşlara gözegçilik etmegiň çägini ep-esli gowulaşdyrdy we ýarymgeçiriji meýdançada aýrylmaz mikroskopik gözegçilik enjamydyr, şeýle hem gözleg we ösüş, köpçülikleýin önümçilik prosesine gözegçilik we proses üçin aýrylmaz enjamdyr. ýarymgeçiriji meýdanynda anomaliýa derňewi.
TEM ýarymgeçiriji meýdançasynda wafli önümçilik prosesiniň derňewi, çip şowsuzlygynyň derňewi, çip ters derňewi, örtük we ýarymgeçiriji prosesiň derňewi we ş.m. ýaly köp sanly programma bar, müşderi bazasy fablarda, gaplaýyş zawodlarynda, çip dizaýn kompaniýalary, ýarymgeçiriji enjamlary gözlemek we ösdürmek, material gözleg we ösüş, uniwersitet gözleg institutlary we ş.m.
GRGTEST TEM Tehniki toparyň başarnyklaryny tanyşdyrmak
TEM tehniki toparyna doktor Çen Zhen ýolbaşçylyk edýär we toparyň tehniki diregi degişli pudaklarda 5 ýyldan gowrak tejribe toplady.Diňe TEM netijelerini seljermekde baý tejribe däl, eýsem FIB nusgasyny taýýarlamakda baý tejribe toplap, 7nm we ondan ýokary ösen wafli we dürli ýarymgeçiriji enjamlaryň esasy gurluşlaryny seljermek ukybyna eýe.Häzirki wagtda müşderilerimiz içerki birinji hatar fablar, gaplaýyş zawodlary, çip dizaýn kompaniýalary, uniwersitetler we ylmy gözleg institutlary we ş.m. müşderiler tarapyndan giňden tanalýar.
Iş wagty: 13-2024-nji aprel